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Bergisch Gladbach (ots) - Fries Research & Technology (FRT),
Spezialist für hochauflösende, zerstörungsfreie und automatisierte
3D-Oberflächenmesstechnik, zieht ein positives Intersolar-Fazit. "Wir
sind zufrieden mit den Besucherzahlen. Das Interesse an
leistungsstarken Messtechniklösungen für die Produktion von
Solarzellen ist immens. In den vergangenen drei Jahren haben wir z.B.
mit unseren Profilometern in der Solarbranche Zuwachsraten von 25
Prozent verbucht", verrät Geschäftsführer Dr. Thomas Fries. Auf der
Intersolar präsentierte FRT das neue Profilometer MicroSpy Profile (
http://www.profilometer.com/de ) für den günstigen Einstieg in die
optische Oberflächenmesstechnik.
Solarwafer präzise, schnell und zerstörungsfrei untersuchen
Der MicroSpy Profile, ein neues optisches Profilometer von FRT,
ermöglicht den günstigen Einstieg in die berührungslose 2D- und
3D-Oberflächenmesstechnik. Der MicroSpy Profile ist als sehr
leistungsfähiges und zugleich wirtschaftliches Oberflächenmessgerät
konzipiert und für die optische scannende Messung von Rauheit, Kontur
und 3D-Topographie an Solarwafern einsetzbar. Dank leistungstarker
Sensortechnik liefert das FRT Profilometer Ergebnisse auf fast allen
Oberflächen und Materialien - präzise und schnell. Je nach
Sensor-Ausstattung sind dabei Höhenmessbereiche zwischen 300 µm bis 3
mm und eine vertikale Auflösung von 3 nm erreichbar. Aufgrund des
günstigen Einstiegspreises und der Vielseitigkeit des neuen Geräts
sind die Einsatzgebiete und -möglichkeiten weit gefächert. In der
Solarbranche wird das Oberflächenmessgerät zum Beispiel zur
Charakterisierung der Güte von Kontaktstreifen (sog. Finger) auf
einem monokristallinen oder multikristallinen Solarwafer, mittels
derer der Strom abgeführt wird, eingesetzt.
Führende Solarwafer Hersteller wie die Q-Cells AG, REC ScanWafer
oder Wacker Schott Solar setzen bereits auf optische Profilometer von
FRT in Forschung und Entwicklung sowie in der begleitenden
Produktionskontrolle. Damit sparen sie Material ein, erhöhen den
Wirkungsgrad ihrer Produkte und eröffnen neue Möglichkeiten für die
Qualitätskontrolle.
Informieren Sie sich über das neue Profilometer MicroSpy Profile:
http://www.profilometer.com/de
Originaltext: FRT Fries Research & Technology GmbH
Digitale Pressemappe: http://www.presseportal.de/pm/71527
Pressemappe via RSS : http://www.presseportal.de/rss/pm_71527.rss2
Pressekontakt:
Dr. Thomas Fries
FRT Fries Research & Technology GmbH
Friedrich-Ebert-Straße
51429 Bergisch Gladbach
Tel.: 02204 842430
E-Mail:
Diese E-Mail-Adresse ist gegen Spam Bots geschützt, Sie müssen JavaScript aktivieren, damit Sie es sehen können
www.frt-gmbh.com
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